Електронний архів Полтавського університету економіки і торгівлі >
Навчально-науковий інститут денної освіти >
Кафедра економічної кібернетики, бізнес-економіки та інформаційних систем >
Матеріали конференцій (ННІДО ЕКБІС) >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.puet.edu.ua/handle/123456789/15385

Название: Економічна діагностика соціальних змін
Авторы: Карнаухова, Г.В.
Ямпольска, М.С.
Ключевые слова: Економічна діагностика
діагностика соціальних змін
Дата публикации: Апр-2025
Издатель: ПУЕТ
Библиографическое описание: Карнаухова Г.В., Ямпольська М.С. Економічна діагностика соціальних змін. ХLVІІІ Міжнародна наукова студентська конференція «Актуальні питання розвитку науки та забезпечення якості освіти у ХХІ столітті» (за підсумками науково-дослідних робіт студентів за 2024 рік, до Дня науки в Україні та Міжнародного року кооперативів 2025; 10.04.2025р.). С.450-452
Аннотация: Карнаухова Г.В., Ямпольська М.С. Економічна діагностика соціальних змін. ХLVІІІ Міжнародна наукова студентська конференція «Актуальні питання розвитку науки та забезпечення якості освіти у ХХІ столітті» (за підсумками науково-дослідних робіт студентів за 2024 рік, до Дня науки в Україні та Міжнародного року кооперативів 2025; 10.04.2025р.). С.450-452
Описание: Карнаухова Г.В., Ямпольська М.С. Економічна діагностика соціальних змін. ХLVІІІ Міжнародна наукова студентська конференція «Актуальні питання розвитку науки та забезпечення якості освіти у ХХІ столітті» (за підсумками науково-дослідних робіт студентів за 2024 рік, до Дня науки в Україні та Міжнародного року кооперативів 2025; 10.04.2025р.). С.450-452
URI: http://dspace.puet.edu.ua/handle/123456789/15385
Располагается в коллекциях:Матеріали конференцій (ННІДО ЕКБІС)

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
48_Karnaukhova_Jamp.pdf1,55 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! DSpace Software Copyright © 2002-2005 MIT and Hewlett-Packard - Обратная связь